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中图分类

  • O7 晶体学
  • O71 几何晶体学
  • O711 晶体对称性
  • O711+1 对称性理论
  • O711+2 点群和有限图形的对称性
  • O711+3 空间群和点阵图形的对称性
  • O711+4 晶系、晶类
  • O712 点阵和倒易点阵
  • O713 晶体外形和晶体投影
  • O713+1 测角技术与仪器
  • O713+2 晶体投影
  • O713+3 晶体外形规律
  • O713+4 晶体外形数据
  • O713+5 晶体习性
  • O72 X射线晶体学
  • O721 晶体对X射线、电子和中子的衍射理论
  • O722 衍射实验及数据处理
  • O722+1 劳厄法
  • O722+2 周转法、回摆法及魏森伯法
  • O722+3 倒易点阵直接照相法
  • O722+4 粉末法
  • O722+5 低角散射(小角散射)
  • O722+6 漫散射
  • O722+7 电子衍射与中子衍射
  • O722+8 扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)
  • O723 结构分析
  • O723+1 粉末法中单胞的确定
  • O723+2 空间群的测定
  • O723+3 傅立叶综合法(帕特森投影及电子支分布法)及重原子法
  • O723+4 周相问题
  • O723+5 结构分析所用的模拟及计算工具
  • O723+6 结构参数的准确测定
  • O723+7 点阵常数的准确测定
  • O73 晶体物理
  • O731 晶体的物理性质
  • O732 晶体的各向导性
  • O732+1 晶体的矢量和张量性质
  • O733 晶体的力学性质
  • O733+1 点阵力学
  • O733+2 弹性与滞弹性
  • O733+3 范性形变
  • O733+9 其他
  • O734 晶体的光学性质
  • O734+1 电光、弹光、非线性光学效应
  • O734+2 折射、反射
  • O734+3 发光现象
  • O735 晶体的声学性质
  • O736 晶体的热学性质
  • O737 晶体的磁学性质
  • O738 晶体的电学性质
  • O739 晶体物理实验
  • O74 晶体化学
  • O741 晶体结构数据(结构报告)
  • O741+1 金属和合金体系
  • O741+2 矿物
  • O741+3 无机物
  • O741+4 硅酸盐
  • O741+5 氧化物体系
  • O741+6 有机物
  • O742 晶体化学的规律性
  • O742+1 晶体中的化学键
  • O742+2 原子半径、离子半径及极化率
  • O742+3 密堆积和配位
  • O742+4 同晶型和多晶型
  • O742+5 化学组成和结构间的关系
  • O742+6 水合物和结晶水
  • O742+7 晶体中的氢键
  • O742+8 有序、无序转变
  • O742+9 结构与性能间的关系
  • O743 系统晶体化学
  • O743+1 元素的晶体化学
  • O743+2 金属和合金晶体化学
  • O743+3 无机物晶体化学
  • O743+4 硅酸盐晶体化学
  • O743+5 有机物晶体化学
  • O743+51 高聚物晶体化学
  • O743+52 蛋白质、生化物质晶体化学
  • O743+53 络合物、螯合物和元素有机物晶体化学
  • O75 非晶态和类晶态
  • O751 非晶态
  • O752 丝缕结构
  • O753 类晶态
  • O753+1 微晶
  • O753+2 液晶
  • O753+3 准晶体
  • O754 无定形态和琉璃态
  • O756 非晶态和类态材料的应用
  • O76 晶体结构
  • O761 复相在晶体中的分布
  • O762 孪生晶体
  • O763 晶粒间界
  • O764 粒度分析
  • O765 晶体中的应力
  • O766 观察、分析晶体结构的实验方法
  • O766+1 显微镜技术
  • O766+2 光测弹性学
  • O766+3 X射线方法
  • O766+4 衍射方法
  • O77 晶体缺陷
  • O77+1 点缺陷、面缺陷、体缺陷
  • O77+2 位错
  • O77+3 色心
  • O77+4 高能辐射在晶体中的效应
  • O77+5 杂质
  • O77+9 其他缺陷
  • O78 晶体生长
  • O781 晶体生物理论
  • O782 晶体生长工艺
  • O782+1 溶液法
  • O782+2 高温超高压法
  • O782+3 焰熔法(维尔纳叶法)
  • O782+4 熔盐法(助熔剂法)
  • O782+5 提拉法
  • O782+6 浮区法
  • O782+7 气相-固相反应
  • O782+8 固相-固相反应、应变退火法
  • O782+9 其他生长方法
  • O783 再结晶
  • O784 晶须
  • O785 单晶体的检验
  • O785+1 单晶体的定向
  • O785+2 锥光偏振仪技术
  • O785+3 X射线拓扑技术
  • O785+4 电子自旋共振技术
  • O785+5 电子探针分析技术
  • O785+6 分光光度计技术
  • O785+7 位错密度的测定
  • O786 晶体加工
  • O787 区域提纯(区熔提纯)
  • O79 晶体物理化学过程
  • O791 扩散
  • O792 相变
  • O793 表面现象和表面性能
  • O794 玻璃的晶化
  • O795 晶化过程的热力学与动力学
  • O799 应用晶体学
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