数字集成电路测试

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数字集成电路测试

TN431.207/4022
理论、方法与实践
集成电路科学与技术丛书
李华伟 … [等] 编著
北京 清华大学出版社 2024
978-7-302-66203-7
x, 258页 24cm
数字集成电路 测试技术
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中文图书
集成电路科学与技术丛书
水木书荟
本书介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2至9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。
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李华伟 ... [等] 编著. 数字集成电路测试[M]. 北京 清华大学出版社 2024. 点此复制

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